受試樣品不同溫度循環(huán)試驗一般對電路板、部件、整機、設(shè)備或系統(tǒng)進行應(yīng)力篩選試驗。溫度沖擊試驗一般針對電子元器件、電路板、零部件等進行測試，特別適合用于篩選元器件，尤其是集成電路器件。

測試目的不同溫度循環(huán)試驗主要考核電子設(shè)備在溫度循環(huán)變化的環(huán)境適應(yīng)性能力，是否可以正常工作；溫度沖擊試驗主要考核受試電子器件在高范圍的環(huán)境應(yīng)力例如溫度范圍在-70℃~180℃條件下的器件篩選試驗。

測試要求不同溫度循環(huán)試驗：高溫溫度值、低溫溫度值、溫度變化速率（如5℃/min）、高低溫溫度點保持時間、循環(huán)次數(shù)組成。高低溫溫度極限值較為寬松，循環(huán)次數(shù)多為10次循環(huán)。溫度沖擊試驗：高溫溫度值、低溫溫度值、溫度轉(zhuǎn)換時間（如溫度轉(zhuǎn)換時間≤3min）、循環(huán)次數(shù)組成。高低溫溫度極限值較為嚴苛，循環(huán)次數(shù)多為幾次至幾十次循環(huán)不等。

受試樣機的工作狀態(tài)不同溫度循環(huán)試驗：溫度循環(huán)試驗期間要求在不同的循環(huán)時間點需要對受試樣機進行上電檢測功能和性能的完好性。溫度沖擊試驗：溫度沖擊試驗期間一般不要求對受試樣機進行上電檢測，試驗后通電檢測或通過專業(yè)輔助儀器測試樣機的其他性能指標(biāo)。

受試樣品的數(shù)量不同溫度沖擊試驗：一般針對集成電路器件、電路板等進行，測試的數(shù)量一般較多。溫度循環(huán)試驗：一般的環(huán)境應(yīng)力篩選只在要求篩選的幾臺或1臺受試整機或系統(tǒng)上進行測試。六、測試設(shè)備不同溫度循環(huán)試驗：對于不要求溫度變化速率或溫度變化速率要求比較低（如1℃/min）的溫度循環(huán)試驗，其實就是常規(guī)的高低溫循環(huán)試驗,使用普通的高低溫試驗箱即可進行測試。對于要求高溫度變化速率（如5℃/min,10℃/min,15℃/min）的溫度循環(huán)試驗，需要使用專用的快速溫變箱進行測試，普通溫度箱是不能滿足要求的，對于要求更高溫度變化速率的，就需要使用高加速壽命HALT試驗箱。溫度沖擊試驗：一箱法的溫度沖擊試驗箱，試驗箱只有一個區(qū)域，低溫溫度點時，高溫風(fēng)門關(guān)閉，只送冷風(fēng)，高溫溫度點時，低溫風(fēng)門關(guān)閉，高溫風(fēng)門打開送熱風(fēng)。

兩箱法溫度沖擊箱，一個低溫區(qū)，一個高溫區(qū)，通過提籃將受試樣品在低溫區(qū)和高溫區(qū)之間轉(zhuǎn)換。檢測標(biāo)準不同1、溫度循環(huán)試驗：GJB 1032-1990《電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選方法 》；GB/T 2423.22-2012《電工電子產(chǎn)品 環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗N: 溫度變化》。2、溫度沖擊試驗：GJB 150.5A-2009《裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分：溫度沖擊試驗》；GB/T 2423.22-2012《電工電子產(chǎn)品 環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗N: 溫度變化》。溫度循環(huán)試驗和溫度沖擊試驗雖然有太多的不同點，但它們都屬于氣候類環(huán)境試驗中都非常重要的檢測項目類型，在產(chǎn)品研發(fā)過程的不同階段，都對提高產(chǎn)品的可靠性具備非常重要的作用。

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