根據(jù)可靠性統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)所采用的方法和目的，可靠性統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)可以分為可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)和可靠性測定試驗(yàn)。可靠性測定試驗(yàn)是為測定可靠性特性或其量值而做的試驗(yàn)，通常用來提供可靠性數(shù)據(jù)。可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)是用來驗(yàn)證設(shè)備的可靠性特征值是否符合其規(guī)定的可靠性要求的試驗(yàn)，一般將可靠性鑒定和驗(yàn)收試驗(yàn)統(tǒng)稱為可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)。可靠性試驗(yàn)是對產(chǎn)品進(jìn)行可靠性調(diào)查、分析和評價(jià)的一種手段。試驗(yàn)結(jié)果為故障分析、研究采取的糾正措施、判斷產(chǎn)品是否達(dá)到指標(biāo)要求提供依據(jù)。

1. 如以環(huán)境條件來劃分,可分為包括各種應(yīng)力條件下的模擬試驗(yàn)和現(xiàn)場試驗(yàn)；

2. 以試驗(yàn)項(xiàng)目劃分，可分為環(huán)境試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)、加速試驗(yàn)和各種特殊試驗(yàn)；

3. 若按試驗(yàn)?zāi)康膩韯澐郑瑒t可分為篩選試驗(yàn)、鑒定試驗(yàn)和驗(yàn)收試驗(yàn)；

4. 若按試驗(yàn)性質(zhì)來劃分，也可分為破壞性試驗(yàn)和非破壞性試驗(yàn)兩大類。

5. 但通常慣用的分類法，是把它歸納為五大類:

A.環(huán)境試驗(yàn)

B. 壽命試驗(yàn)

C. 篩選試驗(yàn)

D. 現(xiàn)場使用試驗(yàn)

E. 鑒定試驗(yàn)

可靠性是與電子工業(yè)的發(fā)展密切相關(guān)的，其重要性可從電子產(chǎn)品發(fā)展的三個(gè)特點(diǎn)來加以說明。

首先，電子產(chǎn)品的復(fù)雜程度在不斷增加。人們最早使用的礦石收音機(jī)是非常簡單的，隨之先后出現(xiàn)了各種類型的收音機(jī)、錄音機(jī)、錄放相機(jī)、通訊機(jī)、雷達(dá)、制導(dǎo)系統(tǒng)、電子計(jì)算機(jī)以及宇航控制設(shè)備，復(fù)雜程度不斷地增長。電子產(chǎn)品復(fù)雜程度的顯著標(biāo)志是所需元器件數(shù)量的多少。而電子產(chǎn)品的可靠性決定于所用元器件的可靠性，因?yàn)殡娮赢a(chǎn)品中的任何一個(gè)元器件、任何一個(gè)焊點(diǎn)發(fā)生故障都將導(dǎo)致系統(tǒng)發(fā)生故障。一般說來，電子產(chǎn)品所用的元器件數(shù)量越多，其可靠性問題就越嚴(yán)重，為保證產(chǎn)品或系統(tǒng)能可靠地工作，對元器件可靠性的要求就非常高、非常苛刻。

其次，電子產(chǎn)品的使用環(huán)境日益嚴(yán)酷。從實(shí)驗(yàn)室到野外，從熱帶到寒帶，從陸地到深海，從高空到宇宙空間，經(jīng)受著不同的環(huán)境條件，除溫度、濕度影響外，海水、鹽霧、沖擊、振動(dòng)、宇宙粒子、各種輻射等對電子元器件的影響，導(dǎo)致產(chǎn)品失效的可能性增大。

第三，電子產(chǎn)品的裝置密度不斷增加。從第一代電子管產(chǎn)品進(jìn)入第二代晶體管，現(xiàn)已從小、中規(guī)模集成電路進(jìn)入到大規(guī)模和超大規(guī)模集成電路，電子產(chǎn)品正朝小型化、微型化方向發(fā)展，其結(jié)果導(dǎo)致裝置密度的不斷增加，從而使內(nèi)部溫升增高