手機可靠性測試-結(jié)構(gòu)耐久性測試條件
手機可靠性測試常規(guī)測試條件
結(jié)構(gòu)耐久測試 （Mechanical Endurance Test）
u 測試周期：7 天。
u 測試目的：各結(jié)構(gòu)件壽命測試。
1.按鍵測試（Keypad Test）
2 測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；4臺手機；手機設(shè)置成關(guān)機狀態(tài)。
2 測試方法：導航鍵及其他任意鍵進行10萬次按壓按鍵測試。
2 試驗標準：手機按鍵彈性及功能正常。
2.側(cè)鍵測試（Side Key Test）
2 測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；4臺手機；手機設(shè)置成關(guān)機狀態(tài)；5萬次按壓。
2 試驗標準：手機按鍵彈性及功能正常。
3.翻蓋測試（Flip Life Test）
2 測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；4臺手機；手機設(shè)置成開機狀態(tài)；10萬次開合翻蓋測試。
2 試驗標準：6萬次后，手機外觀，結(jié)構(gòu)，及功能正常。
4.滑蓋測試（Slide Life Test）
2 測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；4臺手機；手機設(shè)置成開機狀態(tài)；8萬次滑蓋測試。
2 試驗標準：6萬次后，手機外觀，結(jié)構(gòu)，及功能正常,滑蓋不能有松動。
5. 重復跌落測試（Micro-Drop Test）
2 測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；7cm高度 ,20mmPVC板；4臺手機；開機狀態(tài)；6000次。
2 測試標準：手機各項功能正常，外殼無變形、破裂、掉漆，顯示屏無破碎，晃動無異響。
6. 充電器插拔測試（Charger Test）
2 測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；4臺手機。
2 試驗方法：將充電器接上電源，連接手機充電接口，等待手機至充電界面顯示正常后，拔除充電插頭。在開機不插卡狀態(tài)下插拔充電3000次。
2 檢驗標準：I/