金屬材料成分分析的常用技術
標題: 《金屬材料成分分析的常用技術》
金屬材料成分分析涉及多種檢測技術,每種技術有其獨特的優勢和適用范圍。
一、光譜分析法
1. 原子發射光譜法(AES):通過測量樣品原子激發后發射的光來定量分析金屬中的元素。
2. X射線熒光光譜(XRF):利用X射線激發樣品,根據元素特定的熒光光譜進行定量分析。
二、質譜分析法
1. 感應耦合等離子體質譜(ICP-MS):將樣品中的金屬元素電離,并通過質譜儀進行定量分析,適用于痕量元素的檢測。
2. 二次離子質譜(SIMS):通過發射高能離子束轟擊樣品表面,分析濺射出來的二次離子,獲得深度剖析信息。
三、其他分析技術
1. 電子探針微量分析(EPMA):結合了電子顯微鏡和X射線光譜技術,可以在微觀層面上進行成分分析。
2. 激光誘導擊穿光譜(LIBS):利用激光脈沖對樣品進行局部加熱至擊穿,通過分析發射光譜來確定元素種類和濃度。