MTBF（Mean Time Between Failures）即平均故障間隔時(shí)間，是衡量產(chǎn)品可靠性的一個(gè)重要指標(biāo)。它表示的是可修復(fù)產(chǎn)品兩次相鄰故障之間的平均時(shí)間。加速壽命模型則是一種通過(guò)增加應(yīng)力（如溫度、電壓、濕度等）來(lái)縮短測(cè)試時(shí)間，從而快速評(píng)估產(chǎn)品在正常使用條件下壽命的方法。

原理：它是一種綜合考慮多種應(yīng)力（如溫度和電壓等）對(duì)產(chǎn)品壽命影響的模型。公式為，其中是一個(gè)常數(shù)，是溫度，是其他應(yīng)力因素。

應(yīng)用案例：對(duì)于復(fù)雜的電子設(shè)備，如智能手機(jī)主板，其壽命可能受到溫度和工作電流的共同影響。通過(guò)艾林模型，可以同時(shí)考慮這兩種應(yīng)力的加速作用，更準(zhǔn)確地評(píng)估產(chǎn)品在實(shí)際使用環(huán)境中的壽命。

原理：主要用于與非熱應(yīng)力相關(guān)的加速壽命測(cè)試，如電壓、壓力等。其公式為，其中是在應(yīng)力下的壽命，是一個(gè)常數(shù)，是模型的參數(shù)。應(yīng)力可以是電壓、電流等非溫度應(yīng)力因素。

應(yīng)用案例：以電子產(chǎn)品中的電源模塊為例，在正常工作電壓下壽命為，當(dāng)提高電壓到進(jìn)行加速壽命測(cè)試時(shí)，利用逆冪律模型，通過(guò)已知的參數(shù)和，可以從加速測(cè)試的結(jié)果推算出正常工作電壓下的壽命。

原理：該模型主要用于溫度加速壽命測(cè)試。它基于化學(xué)反應(yīng)速率與溫度之間的關(guān)系，其公式為，其中是在溫度下的壽命，是一個(gè)常數(shù)，是激活能（與產(chǎn)品失效機(jī)制相關(guān)的能量參數(shù)），是玻爾茲曼常數(shù)，是絕對(duì)溫度。

應(yīng)用案例：例如在電子元器件的測(cè)試中，假設(shè)某種電容器在正常工作溫度（）下的壽命估計(jì)為，通過(guò)提高溫度到（）進(jìn)行加速壽命測(cè)試。已知激活能，就可以根據(jù)阿倫尼斯模型計(jì)算出在加速溫度下的壽命與的關(guān)系，從而通過(guò)在加速溫度下的測(cè)試數(shù)據(jù)來(lái)推算正常溫度下的壽命。

阿倫尼斯模型（Arrhenius Model）

逆冪律模型（Inverse Power Law Model）

艾林模型（Eyring Model）

確定加速變量和加速條件：首先要確定哪種應(yīng)力因素（溫度、電壓等）對(duì)產(chǎn)品壽命影響較大，然后選擇合適的加速條件。例如，對(duì)于對(duì)溫度敏感的電子產(chǎn)品，選擇合適的高溫作為加速條件。

進(jìn)行加速壽命測(cè)試：在選定的加速條件下，對(duì)一定數(shù)量的樣品進(jìn)行測(cè)試，記錄每個(gè)樣品的失效時(shí)間。例如，將一批電子元件放置在高溫箱中，設(shè)定較高的溫度，然后觀察元件的失效情況并記錄時(shí)間。

建立加速壽命模型：根據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)，利用合適的數(shù)學(xué)模型（如阿倫尼斯模型等）進(jìn)行擬合，確定模型中的參數(shù)。這通常需要使用統(tǒng)計(jì)分析軟件或數(shù)學(xué)方法進(jìn)行計(jì)算。

模型驗(yàn)證和應(yīng)用：通過(guò)與已知的正常條件下的少量壽命數(shù)據(jù)或其他可靠性數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比驗(yàn)證模型的準(zhǔn)確性。驗(yàn)證成功后，就可以利用該模型來(lái)預(yù)測(cè)產(chǎn)品在正常使用條件下的 MTBF。